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Neue Application Note zu Photoleitfähigkeitsmessungen im PPMS

Photoleitfähigkeit ist ein Phänomen, bei dem ein schlechter elektrischer Leiter (oder sogar Isolator) unter dem Einfluss von Strahlung elektrische Leitfähigkeit zeigt. Der Grund dafür ist die Anregung von Elektronen in das Leitungsband, wie Abbildung 1 schematisch darstellt.

LOT-QuantumDesign
Abb. 1

Hierzu wurden Messungen im PPMS an einem kommerziellen Photoleit­fähigkeitssensor auf Basis von CdS durchgeführt. Bei Verwendung einer monochromatischen Lichtquelle zeigt die Probe ein Leitfähigkeitsma­ximum bei einer Bestrahlung mit 580 nm, welches einer Energie von etwa 2,1 eV entspricht. Dieses ist in guter Übereinstimmung mit der Bandlücke, die für reines CdS 2,42 eV beträgt. Bei längeren Wellenlängen nimmt die Photoleitfähigkeit deutlich ab (Abb. 2).

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Abb. 2


Eine ausführliche Beschreibung des Experimentes finden Sie in der neuen Application Note, die wir Ihnen gerne zusenden. Dort finden Sie unter anderem den experimentellen Aufbau mit Einbindung in das PPMS-System und den Einfluss der Temperatur bis in den kryogenen Bereich.

Mehr über Systeme zur Messung physikalischer Eigenschaften


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Marc Kunzmann
Product Manager – Cryogenics & Materials science
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