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Neue SWIR-Kamera – hohe Empfindlichkeit bis 2350 nm

Einige Jahre konnten Anwendungen im kurzwelligen Infrarot, also dem Bereich von 1000 bis 2500 nm durch ther­moelektrisch gekühlte MCT-De­tektoren gelöst werden. Allerdings ergab sich in dieser Detektortechnik vor zwei Jahren ein Beschaffungsproblem bei den Sensoren, wodurch diese Ka­meratechnik mehr oder weniger vom Markt verschwinden musste.

Xenics hat jetzt ein Nachfolgemodell zur Marktreife gebracht. Die Xeva 2.35 nutzt einen T2SL Detektor (eine spezielle Form eines dotierten InGaAs-Detektors), dessen Empfindlichkeit im Bereich von 1 µm bis 2,35 µm liegt. Dieser Detektor muss nur thermoelektrisch gekühlt werden. Dadurch ergibt sich eine lange Verwendbarkeit bei niedrigen Betriebsgeräuschen, ohne Vibrationen und gleichfalls geringer Baugröße und Gewicht.

Xeva 2.35 gibt Signale über die bekannten Ausgänge USB 2.0 und CameraLink aus, beides direkt an der Kamera verfügbar. Die bewährte Software Xeneth zum Steuern der Kamera, Auslesen und Analysieren der Bilder, sowie das Software De­ve­lop­ment Kit gehören zum Stan­dard­lieferumfang dieser wissenschaftlichen Kamera.

Alle Objektive mit C-Mount können genutzt werden, die idealerweise eine Beschichtung für das kurzwellige Infrarot haben, um auch das niedrige Rauschen und die hohe Dynamik der Kamera voll nutzen zu können. Xeva 2.35 ist in zwei Varianten erhältlich: mit 100 Hz oder 350 Hz Vollbildrate. Zusätzlich kann die Ausleserate durch Wahl kleinerer Bildfenster erhöht werden.

Xeva 2.35 füllt damit wieder die Lücke der doch sehr vermissten Kameravariante mit MCT- Detektor.


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Stefan Wittmer
Product Manager - Imaging & Materials Science & Spectroscopy
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