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Erste Publikationen zeigen das Potenzial des NanoTweezer

Im Januar und März 2015 sind die ersten beiden Publikationen über die Charakterisierung einzelner (Nano)-Partikel mit dem NanoTweezer von Optofluidics erschienen. Die Titel lauten „Nanophotonic Force Microscopy: Characterizing Particle−Surface Interactions Using Near-Field Photonics (1)” und “A nanotweezer system for evanescent wave excited surface enhanced Raman spectroscopy (SERS) of single nanoparticles (2)”.

Der NanoTweezer basiert auf einer neuartigen Wellenleiter-Technik, die einen Laser nutzt, um (Nano)-Partikel im evaneszenten Feld an der Oberfläche des Wellenleiters einzu­fan­gen. Über das erzeugte Streulicht können die Wechselwirkungen zwischen den einzelnen Partikeln und dem optischen Leiter gemessen werden. Dabei kann die Oberfläche des Wellenleiters chemisch verändert werden, um sie den Anforderungen der zu messenden Partikel anzupassen. So können ramanspektroskopische Untersuchungen und Oberflächencha­rakterisierungen an einzelnen Parti­keln im Größenbereich von ca. 20 nm bis 3 µm vorgenommen werden.

Fraktale

Literatur:

Perry Schein, Pilgyu Kang, Dakota O’Dell, and David Erickson: Nano Lett., 15, 1414−1420 (2015)

Lingbo Kong, Changwon Lee, Christopher M. Earhart, Bernardo Cordovez, and James W. Chan: Optics Express Vol. 23, Iss. 5, pp. 6793–6802 (2015)


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