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Automatisierte Charakterisierung von Poren mit dem Desktop-Elektronenmikroskop Phenom

Phenom SS Analysis

Auf Basis der Phenom Desktop-Elektronenmikroskope steht ab September 2014 ein neues Analysesystem zur automatisierten Charakterisierung von Poren zur Verfügung.

Die Software ist in der Lage auf Basis von Phenom REM-BSE-Aufnahmen Poren im Größenbereich zwischen 100 nm und 100 μm zu charakterisieren. Der Algorithmus ermöglicht die Kalkulation von bis zu 1000 Poren pro Minute.

Dabei werden nur Poren an der Oberfläche der Probe erfasst. Die Erstellung von Aufnahmeserien (Automated Image Mapping) über eine größere Erfassungsfläche, welche auch ein Schnitt durch die Probe sein kann, ermöglicht repräsentative Analysen.

Analyse

Im Analysebereich werden die detektierten Poren zunächst in vereinzelter Form in einer Bilddatenbank abgelegt. Dies erfolgt vollautomatisch. Es stehen vielfältige Auswertemöglichkeiten zur Verfügung: Durchmesser, größter Durchmesser (Kreisprojektion), Spheriziät, Konvexität, Umfang, Sehnenlänge Min. und Max., Aspektverhältnis und ein errechnetes Volumen u.v.m..

Reporting

Das Reportingtool bietet umfangreiche statistische Darstellungen an: Säulendiagramme, Punktdiagramme, Definition von Klassen, Kumulationskurve, Verteilung nach Porenanzahl, Verteilung nach errechnetem Porenvolumen, Lineare und/oder logarithmische Skalierung X, Y, u.v.m.

Beim Abspeichern der Ergebnisse erzeugt die Software automatisch eine Projektdatei, die jederzeit um weitere Messungen ergänzt werden kann. Gleichzeitig wird ein Report im Open-XML-Format abgespeichert, der alle erstellten Bilder, Diagramme und Messdaten enthält.

Phenom PoroMetric ist mit allen Phenom-Geräteversionen kompatibel. Voraussetzung ist die Applikationsplattform ProSuite.

Anmerkung: Die Spezifikationen können bei Auslieferung abweichen, da bei Redaktionsschluss noch keine offizielle Version vorlag.


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Carsten Pape
Product Manager - Electron microscopy
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