Messungen für die Materialwissenschaften, Spektroskopie & Elektronenmikroskopie

In unserem umfassend ausgestatteten Applikationslabor sind eine Vielzahl von Messungen für die Bereiche Materialwissenschaften, Spektroskopie und Elektronenmikroskopie möglich. Falls eine von Ihnen benötigte Messung unten nicht aufgeführt ist, sprechen Sie uns einfach an.

Folgende Messungen bieten wir an:

  • 60 MHz NMR Spektroskopie(1H &  19F)
  • Dickenbestimmung dünner, (semi-) transparenter Schichten
  • Haft- und Verschleißfestigkeit von Schichten und Oberflächen
  • Mikro- und Nanohärte sowie E-Modul dünner Schichten und Oberflächen
  • Oberflächencharakterisierung von Nanostrukturen auf harten und weichen biologischen Proben
  • Oberflächen- und Elementcharakterisierung mittels Elektronenmikroskop
  • Optische Konstanten und Schichtdicken dünner Filme mittels spektroskopischer Ellipsometrie
  • Partikelgrößenbestimmung
  • Viskoelastische Eigenschaften dünner Filme
  • Zwischenmolekulare Bindungen auf Oberflächen

Verfügbare Messgeräte:

  • Nanohärtetester: MicroMaterials NanoTest Vantage
  • NMR Spektroskopie: Pulsar 60 MHz NMR Spektroskop (1H &  19F)
  • Phenom Pro X Desktop Elektronenmikroskop
  • QCM-D: Q-Sense E4
  • Spektroskopische Ellipsometrie: J.A.Woollam RC2, VASE, Alpha-SE

Kontakt

Wilfried Helle
Anwendungsspezialist - Auftragsmessungen
+49 6151 8806-33
Fax: +49 6151 8806933
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