In-Situ Zug- und Kompressionsprobentische

Von Deben

Die Microtest in-situ Zug- und Kompressionsprobentische bieten in der Standardausführung einen Kraftbereich von 2 N bis 5 kN und bis zu 100 kN als Sonderanfertigungen.

  • 2-facher Gewindespindel-Probentisch für XRD, optische Mikroskopie und Synchrotronforschung sowohl für Reflexions- als auch Transmissionsexperimente
  • Mini Kompressions Tester, 200 N Kompressions- und horizontaler Biege-Probentisch speziell für den Einsatz in einem REM, optischen Mikroskop, AFM oder Synchrotron
  • 2 kN & 5 kN Zug-, Kompressions- und horizontaler Biege-Probentisch für den Einsatz in einem REM, optischen Mikroskop, AFM oder XRD System
  • 300 N & 2 kN vertikaler 3 & 4 Punkt Biege- und Zug-Probentisch zur Probenuntersuchung in einem REM oder optischen Mikroskop unter verschiedenen mechanischen Stressbedingungen
  • Biaxialer Zug-Probentisch für Textil- und Polymeruntersuchungen mit dem Kräfte von 5 kN bis zu 100 kN können realisiert werden können
  • 2 kN Zug-Probentisch für REM-EBSD mit optionalem Heizmodul bis zu 550 °C für REM-Experimente mit EBSD-Detektor

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Produkt Manager - Elektronenmikroskopie & Nanotechnologie
+49 6151 8806-12
Fax: +49 6151 8806912

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