In-situ-Probentische für Elektronenmikroskopie und µXCT

Wir bieten eine Reihe von In-situ-Probentischen für Elektronenmikroskopie- und Computertomografie (µCT)- Systeme. Die Tische kommen sowohl für Druck- und Zugexperimente als auch für Temperaturexperimente zum Einsatz, und können mit nahezu allen marktüblichen Computertomografie- und Elektronenmikroskopie-Systemen verwendet werden.

Mit den in-situ µCT-Probentischen können Druck- und Zugexperimente durchgeführt werden ohne dass die Probe aus dem Computertomographen entnommen werden muss. Es können Kräfte bis 25 kN auf die Probe ausgeübt werden mit einer Kraftauflösung bis zu 25 mN.

Zusätzliche ist eine Temperierung der Probe möglich. Die Probentische können mit vielen kommerziellen CT-Systemen (z.B. Zeiss, Nikon, GE) und auch Eigenbauten betrieben werden.

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Mit den in-situ µCT-Probentischen können Druck- und Zugexperimente durchgeführt werden ohne dass die Probe aus dem Computertomographen entnommen werden muss. Es können Kräfte bis 25 kN auf die Probe ausgeübt werden mit einer Kraftauflösung bis zu 25 mN.

Zusätzliche ist eine Temperierung der Probe möglich. Die Probentische können mit vielen kommerziellen CT-Systemen (z.B. Zeiss, Nikon, GE) und auch Eigenbauten betrieben werden.

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Der heiz-/kühlbare Probentisch von Deben ermöglicht CT-Experimente auch von gefrorenen Proben. Doppellagige Polystyrolfenster (optional Kohlenstofffenster) gewährleisten eine schnelle Abkühlung der Probe auf -20 °C und vermeiden so die Bildung von Eiskristallen.

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Die Peltier-Probentische von Deben können sowohl in Hochvakuum- als auch in Niedrigvakuum-REMs betrieben werden und kontrollieren äußerst genau die Temperatur der Probe. Es stehen insgesamt drei Modelle zur Auswahl.

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Die Microtest in-situ Zug- und Kompressionsprobentische bieten in der Standardausführung einen Kraftbereich von 2 N bis 5 kN und bis zu 100 kN als Sonderanfertigungen.

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