Hochauflösendes Desktop Rasterelektronenmikroskop

Phenom Pro von Phenom-World

Das Phenom Pro ist das derzeit leistungsfähigste Rasterelektronenmikroskop (REM) im Desktop-Format. Der 4-Quadranten-Rückstreuelektronendetektor (BSD) ermöglicht eine Ortsauflösung von ≤ 14 nm (bezogen auf Gold bei 10 kV und 6 mm Arbeitsabstand) sowie Vergrößerungen bis 130000x.

Der Schlüssel für die Leistungsfähigkeit liegt in der Kombination der Komponenten: Robuste Elektronensäule, leistungsfähige Elektronenquelle (CeB6), patentierter Probenhalter sowie eine genial einfach und intuitiv zu bedienende Benutzeroberfläche.

Das Phenom Pro kann nachträglich zu einem Phenom ProX erweitert und so mit einem EDX-Detektor ausgerüstet werden.
 

Features
Auflösung ≤ 14 nm, Vergrößerungsbereich 80x – 130000x
Langlebige CeB6-Elektronenquelle mit hohem Richtstrahlwert
Beschleunigungspannungen zwischen 4,8 kV und 10 kV stufenlos wählbar.
Integriertes Digitalmikroskop (20x- bis 120x) für optimale Probennavigation
Probenladezeit weniger als 30 Sekunden und motorisierte X/Y-Achsen

Phenom ProSuite (Option)

Die ProSuite Applikationsplattform bietet eine Vielzahl an Tools für Ihre REM-Bilder:

  • Automated Image Mapping: Automatisches Zusammenfügen von REM-Bildern zu einem großen zusammenhängenden Bild ermöglicht die Betrachtung von großen Probenflächen bei hoher Ortsauflösung
  • Remote User Interface: Hiermit können Sie Ihr Phenom via LAN oder WAN fernsteuern. Sei es für die Übertragung von Live-Bildern in den Hörsaal oder für Support-Zwecke
  • 3D RoughnessReconstruction (Option): Visualisierung von Oberflächen in 3D. Basieren auf dem „Shape-from-shading“-Algorithmus werden 3D-Bilder in Sekundenschnelle ohne Probenkippung erzeugt
  • ParticleMetric (Option): Automatische, hochauflösende Partikelgrößenanalyse und umfangreiche statistische Auswertung von morphologischen Eigenschaften von Nanopartikeln
  • Porometric (Option): Automatische, hochauflösende Porengrößenanalyse und umfangreiche statistische Auswertung von morphologischen Eigenschaften von nanoskaligen Poren
  • Fibermetric (Option): Automatische, hochauflösende Faseranalyse und umfangreiche statistische Auswertung von nanoskaligen Fasern

Phenom Probenkammern

Jedes Phenom (außer Phenom XL) wird mit einer Standard-Probenkammer ausgeliefert. In dieser Probenkammer herrscht im REM-Modus ein Vakuum von ca. 0,1 mbar (10 Pa). Das ermöglicht zum einen eine sehr schnelle Probenschleusung in weniger als 30 Sekunden. Zum anderen neigen vakuumempfindliche Proben bei diesem Druck weniger zum Kollabieren und Aufladen als in einem Hochvakuum-System.

Folgende optionale Probenkammern stehen zur Verfügung:

  • ChargeReduction Probenkammer
    Im ChargeReduction-Mode wird der Druck in der Probenkammer von 0,1 mbar auf 0,7 mbar erhöht.
    Positiv ionisierte Moleküle im Restgas (z.B. H2O) tragen zum Potentialausgleich im Scanfeld bei
    und sorgen so für eine Reduzierung der Aufladungsartefakte
  • Schliff-Probenkammer (auch als Charge-Reduction-Version)
    Einfache und gleichzeitig plane Fixierung von Schliffen bis 30 mm Durchmesser
  • Tilt&Rotation (Pro Suite erforderlich)
    Zwei zusätzliche hochpräzise motorisierte Achsen (Rotation endlos und Kippung -10° bis +45°) in Kombination mit der Phenom „SmartControl“-Software ermöglichen noch bessere Positionierung von Proben im REM
  • CoolingStage (-25 °C bis +50 °C)
    Mit der CoolingStage besteht die Möglichkeit, Flüssigkeiten kontrolliert einzufrieren und im REM zu untersuchen Hiermit bietet sich die Möglichkeit zur Untersuchung von Präparaten bei genau definierten Temperaturen, z.B. das Verhalten von medizinischen Wirkstoffen bei Lager- und Körpertemperatur
Der Rückstreuelektronendetektor lässt sich sowohl im Materialkontrast- als auch im Topographiekontrastmodus betreiben
Der ChargeReduction-Modus vermindert Aufladungserscheinungen und Strahl- bzw. Vakuumschädigungen bei isolierenden und vakuumempfindlichen Proben
Die in 0,1 kV Schritten zwischen 4,8 und 10 kV regelbare Beschleunigungsspannung ermöglicht oberflächensensitive Untersuchungen und höhere Auflösung bei leichten Elementen

„Mit dem Phenom ist ein annähernd perfekter Brückenschlag zwischen Lichtmikroskopie und hoch auflösender Rasterelektronenmikroskopie gelungen. […] Bereits nach kurzer Einarbeitungszeit kann der unvorbelastete Nutzer REM-Aufnahmen mit exzellenter Abbildungsqualität und überzeugender Schärfentiefe produzieren.“

- Prof. Dr. Bernd R. Schöne, Institut für Geowissenschaften, Johannes Gutenberg-Universität Mainz

Hier finden Sie den kompletten Anwenderbericht.

Kontakt

Weitere Informationen anfordern
Produkt Manager - Elektronenmikroskopie
+49 6151 8806-21
Fax: +49 6151 8806921

Unser Partner

Folgen sie uns: twitter linkedin
European offices
© LOT Quantum Design 2016