Desktop Rasterelektronenmikroskop mit großer Probenkammer

XL von Phenom-World

Das Phenom XL erweitert die Möglichkeiten der Phenom Desktop Elektronenmikroskope durch eine große Probenkammer und den optional erhältlichen Sekundärelektronendetektor (SED) bei der gewohnt intuitiven Bedienbarkeit.

Die große Probenkammer bietet Platz für bis zu 36 Probenteller oder Proben mit einer Größe von bis zu 100 mm x 100 mm x 57 mm. Das Sichtfeld beträgt ebenfalls bis zu 100 mm x 100 mm.

Durch den optional erhältlichen Evehart-Thornley SE-Detektor sowie das EDX-System ist das Phenom XL das bisher umfassendste Instrument der Phenom Desktop Serie.

Features
Probenkammer (B) 100 mm x (L) 100 mm x (T) 57 mm, Sichtfeld 100 mm x 100 mm
Langlebige CeB6-Elektronenquelle mit hohem Richtstrahlwert
Beschleunigungsspannungen zwischen 4,8 kV und 15 kV stufenlos wählbar
Drei Vakuummodi: ChargeReduction (60 Pa), Standardvakuum (10 Pa) und Hochvakuum (10-2 Pa)
Probenladezeit weniger als 60 Sekunden und motorisierte X/Y-Achsen

Phenom XL

Durch die große Probenkammer und die bewährt schnelle Schleusung ist der Probendurchsatz mit dem Phenom XL verglichen mit anderen REM um mehrere Größenordnungen höher. Das Prinzip eines Probenshuttles sowie die gewohnt intuitive Benutzeroberfläche bleiben dabei erhalten.

Bereits nach 5 s erhält man ein lichtmikroskopisches Übersichtsbild der gesamten Probenkammer (3x – 16x Vergrößerung), welches später zur „Never Lost Navigation“ dient. Nach weniger als einer Minute befindet sich das Probenshuttle unter der Elektronensäule. Vergrößerungen bis zu 100000x sind möglich.

Voll ausgestattet mit SE-Detektor und EDX System bietet das Phenom XL umfassende Analysemöglichkeiten bezüglich Oberflächentopographie und Material der zu untersuchenden Proben.

Neben den bekannten Vakuummodi ChargeReduction (zur Minimierung von Aufladungserscheinungen und Strahl- bzw. Vakuumschädigung bei isolierenden und empfindlichen Proben) und Standardvakuum kann das Instrument in einem Hochvakuummodus betrieben werden um beispielsweise die Topographie von Proben im SE-Modus hochaufgelöst abbilden zu können.

Phenom ProSuite

Die ProSuite Applikationsplattform bietet eine Vielzahl an Tools für Ihre REM-Bilder:

  • Automated Image Mapping
    Automatisches Zusammenfügen von REM-Bildern ermöglicht die Betrachtung von großen Probenbereichen mit hoher Ortsauflösung
  • Remote User Interface
    Hiermit können Sie Ihr Phenom via LAN oder WLAN fernsteuern. Sei es für die Übertragung von Live-Bildern in den Hörsaal oder für Support-Zwecke
  • 3D RoughnessReconstruction (Option)
    Visualisierung von Oberflächen in 3D. Basierend auf dem „Shape-from-shading“-Algorithmus werden 3D-Bilder in Sekundenschnelle (ohne Probenkippung) erzeugt
  • ParticleMetric (Option)
    Automatische, hochauflösende Partikelgrößenanalyse und umfangreiche statistische Auswertung von morphologischen Eigenschaften von nano- und mikroskaligen Partikeln
  • PoroMetric (Option)
    Automatische, hochauflösende Porengrößenanalyse und umfangreiche statistische Auswertung von morphologischen Eigenschaften von nano- und mikroskaligen Poren
  • FiberMetric (Option)
    Automatische, hochauflösende Faseranalyse und umfangreiche statistische Auswertung von nano- und mikroskaligen Fasern
Der Rückstreuelektronendetektor lässt sich sowohl im Materialkontrast- als auch im Topographiekontrastmodus betreiben
Der ChargeReduction-Modus vermindert Aufladungserscheinungen und Strahlschädigungen bei isolierenden und vakuuminstabilen Proben
Die in 0,1 kV Schritten zwischen 4,8 und 15 kV regelbare Beschleunigungsspannung ermöglicht oberflächensensitive Untersuchungen und höhere Auflösung bei leichten Elementen

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Produkt Manager - Elektronenmikroskopie
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Fax: +49 6151 8806921

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