Desktop Rasterelektronenmikroskop der Einstiegsklasse

Phenom Pure

Das Phenom Pure ist der ideale Einstieg in die Elektronenmikroskopie. Das Desktop-Rasterelektronenmikroskop (REM) ist mit einem 4-Quadranten-Rückstreuelektronendetektor (BSD) ausgestattet und erreicht eine Ortsauflösung von ≤  30 nm (bezogen auf Gold bei 5 kV und 6 mm Arbeitsabstand) sowie Vergrößerungen bis 30000x.

Der Schlüssel für die Leistungsfähigkeit liegt in der Kombination der Komponenten: Robuste Elektronensäule, leistungsfähige Elektronenquelle (CeB6), patentierter Probenhalter sowie eine einfach und intuitiv zu bedienende Benutzeroberfläche.

Das Phenom Pure kann nachträglich zu einem Phenom Pro oder Phenom ProX (EDX) erweitert werden.

Features
Auflösung ≤ 30 nm, Vergrößerungsbereich 70x – 30000x
Langlebige CeB6-Elektronenquelle für brillante Bildqualität
Beschleunigungspannung 5 kV
Integriertes Digitalmikroskop (20x) für optimale Probennavigation
Probenladezeit weniger als 30 Sekunden und motorisierte X/Y-Achsen

Phenom ProSuite (Option)

Die ProSuite Applikationsplattform bietet eine Vielzahl an Tools für Ihre REM-Bilder.

  • Automated Image Mapping: Automatisches Zusammenfügen von REM-Bildern zu einem großen zusammenhängenden Bild ermöglicht die Betrachtung von großen Probenflächen bei hoher Ortsauflösung
  • Remote User Interface: Hiermit können Sie Ihr Phenom via LAN oder WAN fernsteuern. Sei es für die Übertragung von Live-Bildern in den Hörsaal oder für Support-Zwecke
  • 3D RoughnessReconstruction (Option): Visualisierung von Oberflächen in 3D. Basierend auf dem „Shape-from-shading“-Algorithmus werden 3D-Bilder in Sekundenschnelle ohne Probenkippung erzeugt
  • ParticleMetric (Option): Automatische, hochauflösende Partikelgrößenanalyse und umfangreiche statistische Auswertung von morphologischen Eigenschaften von Nanopartikeln
  • Porometric (Option): Automatische, hochauflösende Porengrößenanalyse und umfangreiche statistische Auswertung von morphologischen Eigenschaften von nanoskaligen Poren
  • Fibermetric (Option): Automatische, hochauflösende Faseranalyse und umfangreiche statistische Auswertung von nanoskaligen Fasern

Phenom Probenkammern

Jedes Phenom (außer Phenom XL) wird mit einer Standard-Probenkammer ausgeliefert. In dieser Probenkammer herrscht im REM-Modus ein Vakuum von ca. 0,1 mbar (10 Pa). Das ermöglicht zum einen eine sehr schnelle Probenschleusung in weniger als 30 Sekunden. Zum anderen neigen vakuumempfindliche Proben bei diesem Druck weniger zum Kollabieren und Aufladen als in einem Hochvakuum-System. Beides zusammen ermöglicht einen hohen Probendurchsatz sowie einen geringen Präparationsaufwand.

Folgende optionale Probenkammern stehen zur Verfügung:

  • ChargeReduction Probenkammer
    Im ChargeReduction-Mode wird der Druck in der Probenkammer von 0,1 mbar auf 0,7 mbar erhöht. Positiv ionisierte Moleküle im Restgas (z.B. H2O) tragen zum Potentialausgleich im Scanfeld bei und sorgen so für eine Reduzierung der Aufladungsartefakte.
  • Schliff-Probenkammer (auch als ChargeReduction-Version)
    Einfache und gleichzeitig plane Fixierung von Schliffen bis 30 mm Durchmesser.
  • Tilt&Rotation (Pro Suite erforderlich)
    Zwei zusätzliche hochpräzise motorisierte Achsen (Rotation endlos und Kippung -10° bis +45°) in Kombination mit der Phenom „SmartControl“-Software ermöglichen noch bessere Positionierung von Proben im REM.
  • CoolingStage (-25 °C bis +50 °C)
    Mit der CoolingStage besteht die Möglichkeit, Flüssigkeiten kontrolliert einzufrieren und im REM zu untersuchen. Hiermit bietet sich die Möglichkeit zur Untersuchung von Präparaten bei genau definierten Temperaturen, z.B. das Verhalten von medizinischen Wirkstoffen bei Lager- und Körpertemperatur.
    Der Rückstreuelektronendetektor lässt sich sowohl im Materialkontrast- als auch im Topographiekontrastmodus betreiben
    Der ChargeReduction-Modus vermindert Aufladungserscheinungen und Strahl- bzw. Vakuumschädigungen bei isolierenden und vakuumempfindlichen Proben

    Nanostrukturierte Elektrolytschichten für Festoxidbrennstoffzellen
    Die zunehmende Verschmutzung der Atmosphäre und die hieraus resultierende, bereits spürbar
    ansteigende Durchschnittstemperatur der Erde machen Verbesserungen der bestehenden
    Energieproduktionstechniken sowie die Entwicklung neuer Strategien für die Energieumwandlung
    notwendig.

    Mark Kappertz, Arbeitsgruppe Micro-/Nanostrutur Diagnostik, Forschungszentrum Jülich GmbH (FZJ)

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