Analyse-Software

Phenom ParticleMetric

Die Phenom ProSuite Applikationsplattform wurde entwickelt um möglichst detaillierte Informationen aus den erhaltenen REM-Abbildungen und Probenanalysen zu erhalten und die Abläufe zu automatisieren. Phenom ProSuite ist auf einem separaten Rechner installiert und dient als Plattform für  unterschiedlichste Analysesoftware. Durch diese Anordnung kann das Mikroskop unbeeinflusst betrieben werden.

Im ProSuite Paket sind standardmäßig die Software „Automated Image Mapping“ sowie „Remote User Interface“ enthalten. Weitere Applikationen (EDX, 3D Roughness Reconstruction, ParticleMetric, PoroMetric, FiberMetric) sind optional erhältlich.

Features
ProSuite erhältlich für alle Phenom Desktop Elektronenmikroskope.
ProSuite Rechner basiert auf Windows 7 und ist netzwerkfähig
Automated Image Mapping ermöglicht die Erfassung großer Probenbereiche zur weiteren Analyse
Remote User Interface dient zur Fernsteuerung des Mikroskops von überall
Weitere Applikationen optional erhältlich: Element Identification (EDX), ParticleMetric, PoroMetric, FiberMetric, 3D Roughness Reconstruction

ProSuite

Phenom ProSuite ist eine Hardwareplattform bestehend aus einem monitormontierten Mini-PC (Windows 7 (64bit)), 19-Zoll Monitor sowie einem Netzwerk-Router. Phenom ProX sowie Phenom XL mit EDX werden standardmäßig mit Phenom ProSuite ausgeliefert.

Beim Abspeichern der Ergebnisse erzeugen die meisten Applikationen automatisch eine Projektdatei, die jederzeit um weitere Messungen ergänzt werden kann. Gleichzeitig wird ein Report im OpenXML-Format abgespeichert, der alle erstellten Bilder, Diagramme und Messdaten enthält.

Automated Image Mapping

Die Applikation “Automated Image Mapping” (AIM) dient dazu Bilderserien von großen Probenbereichen anzufertigen. Hilfreich hierbei ist die wählbare automatische Verfolgung von Fokus, Helligkeit und Kontrast für jedes Einzelbild. Weiterhin kann das Anfügen der Bilder überlappend erfolgen. Der Benutzer erhält das zusammengesetzte Bild sowie den Einzelbildstapel, welcher von weiteren ProSuite Applikationen genutzt werden kann.

Remote User Interface

Per „Remote User Interface“ können Sie Ihr Phenom via LAN oder WLAN fernsteuern. Sei es für die Übertragung von Live-Bildern in den Hörsaal oder für Support-Zwecke.

ParticleMetric

Die automatische, hochauflösende Partikelgrößenanalyse von ParticleMetric ermöglicht die Visualisierung von Partikeln mit Durchmessern zwischen 100 nm und 100 µm um anschließend umfangreiche statistische Auswertungen ihrer morphologischen Eigenschaften vorzunehmen.

Die Software erfasst bis zu 1000 Partikel pro Minute. Die Partikel werden, vollständig charakterisiert, vereinzelt in einer Datenbank abgelegt. Eine Vielzahl von Auswertemöglichkeiten steht zur Verfügung: Durchmesser, größter Durchmesser, Spherizität, Konvexität, Oberfläche, Umfang, Sehnenlänge, Aspektverhältnis, Schwerpunkt, Grauwert, uvm. Diese Parameter können in nahezu beliebiger Anordnung in Diagrammen dargestellt werden: Säulen-, Punktdiagramme, Definition von Klassen, kumulative Kurven, usw.

PoroMetric

PoroMetric dient der Analyse und Visualisierung von Poren mit Durchmessern zwischen 100 nm und 100 µm. Die Software erfasst bis zu 1000 Poren pro Minute um anschließend wichtige Kenngrößen wie Durchmesser, Sphärizität oder Aspektverhältnis zu charakterisieren.

FiberMetric

FiberMetric analysiert und visualisiert Fasern und Poren mit Durchmessern zwischen 100 nm und 40 µm. Die Software erfasst bis zu 1000 Fasern pro Minute, misst deren Durchmesser sowie Porengrößen um anschließend die Faserverteilung bzw. -ausrichtung sowie Porengrößen zu ermitteln.

Mit FiberMetric ist es möglich, Fasern mit sehr unterschiedlicher Größenverteilung und komplizierter Struktur zu charakterisieren. Zu denken ist hier z.B. an Elektrospin- oder heißluftgezogene Fasern.

3D Roughness Reconstruction

Die Applikation „3D Roughness Reconstruction“ ermöglicht sekundenschnelles Vermessen von Oberflächen und deren Rauhigkeiten direkt aus der Abbildung des Phenom Desktop-Elektronenmikroskops. Die erstellten Höhenkarten lassen sich mittels Hoch- und Tiefbandpassfilter bearbeiten und hieraus Parameter wie durchschnittliche (Ra) sowie die absolute Rauhigkeit (Rz) ermitteln.

Automatisierte Analyse großer Probenbereiche durch Anfertigung von Aufnahmeserien
Partikelanalyse
Faseranalyse
Porenanalyse
3D Oberflächenrekonstruktion, Abbildung der Oberflächenrauhigkeit

Kontakt

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Produkt Manager - Elektronenmikroskopie
+49 6151 8806-21
Fax: +49 6151 8806921
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