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Systeme zur Messung magnetischer, mechanischer, optischer, thermischer Materialeigenschaften

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Neuigkeiten

Neu und kostengünstig – spektroskopisches In-situ-Ellipsometer iSE

Das spektroskopische Ellipsometer iSE wurde speziell für die In-situ-Über­wachung von Schichtdicken und opti­schen Konstanten entwickelt.

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